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编译/VR陀螺
9月21日，半导体自动测试设备厂商Teradyne正式推出Micro-LED量产级光学测试平台Iris 100，面向AR微显示以及AI数据中心光互连等Micro-LED应用，重点解决Micro-LED从实验室验证走向规模制造后的检测效率和成本问题。
据介绍，Iris 100可以对Micro-LED阵列中的每一个发光单元进行检测，并直接与Teradyne UltraFLEXplus平台整合，同时完成光学和电学测试。系统配备光谱仪和高分辨率相机，可测量Micro-LED阵列的光谱响应、单像素亮度和均匀性。
针对AR微显示中数十万甚至数百万个Micro-LED发光单元，Iris 100通过并行测试和图像处理算法提高整块阵列的检测效率，并能够识别死点、常亮像素和像素簇等光学缺陷。系统同时支持晶圆级测试和最终成品测试。
Teradyne表示，Micro-LED正在从实验室研发逐步进入规模化生产，尤其是AR微显示和光互连两类应用，对高精度、高吞吐量检测提出了新的要求。传统实验室光学仪器虽然能够完成器件表征，但在检测速度和单位成本方面难以满足大规模制造需求。
此次Iris 100的推出，也显示随着Micro-LED微显示逐渐进入量产阶段，上游设备需求正在从芯片制造进一步延伸至逐像素检测、晶圆测试和最终测试等环节。对AR产业链而言，检测设备正在成为提升良率和规模交付能力的重要一环。
来源：teradyne
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